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米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格

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米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-20 06:17

米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格

米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

分辨率: 小1μΩ

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV

在开机界面按下按键板上的“显示"键,进入测量界面。如图1如图2,在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键,当测材料电阻率时,请选择 “材料"按键 ,进入材料测试主界面.

显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

米脂双电测电四探针电阻率/方阻测试仪价格

维护和保养使用者的维护为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件,不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其的经销商给予维护。

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

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四探针电阻率方块电阻测试仪注意事项:仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

中、英文界面

衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

安全要点非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

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工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备

测试工作站工作位置工作站的位置选择安排在一般人员非必经的处所,使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时,将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站"。如果工作站与其它作业站非常接时,特别注意安全的问题。在测试时标明“测试执行中,非工作人员请勿靠"

如图3接线方式,把主机与夹具连接线,连接好并固定住,

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻",则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料"则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。

输入电源输入:220V±10% 使用频率:50Hz

测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取

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四探针电阻率方块电阻测试仪适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

在该界面下通过按下按键板上的上下左右键,可以移动蓝色光标选择相应的参数。如图2,将移动到某一参数的位置,按下“设置"键,光标将变为深蓝色。此时通过上下左右键和数字键可以对相应的参数进行设置,设置完毕后按“确定"键返回。

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

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误差:±0.2%读数±2字

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

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